FISCHER X射线测厚仪XDL210信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL210核心硬件参数

X 射线光源

钨靶铍窗 X 射线管，三档高压 30/40/50kV，最大功率 50W；

准直器（测量光斑）

标配 Φ0.3mm；可选 Φ0.1/0.2mm、长条狭缝 0.3×0.05mm，最小光斑≈Φ0.2mm，微小触点、引脚可测；

探测器

比例计数器（PC 探测器），计数速率高，常规镀层测量速度快、性价比高；

样品适配（DCM 距离补偿）

测量距离 0–80mm，高低差大、腔体、带元器件 PCB 无需垫高，自动补偿厚度误差；

视觉定位系统

高分辨率彩色 CCD，40–160 倍放大、LED 环形照明 + 激光定位十字刻度，实时视频观测测量点；

元素检测范围

氯 (17) ~ 铀 (92)，WinFTM 软件可同步分析最多 24 种元素；

整机尺寸与重量

570×760×650mm，净重 94kg，防护等级 IP40，顶部上掀式防护舱门；

供电

100–240V 宽幅电压，50/60Hz，最大功耗 180VA；

辐射安全

整机全屏蔽防护，通过德国 RöV X 射线安全认证，日常使用无需专业防护室。